อุปกรณ์วัดและเครื่องทดสอบ

LK Metrology

ALTERA S
ALTERA S มีความโดดเด่นในประเภท CMM (เครื่องวัดพิกัด) ขนาดกะทัดรัด ซึ่งเป็นที่รู้จักในด้านความสามารถขั้นสูง เทคโนโลยีที่พร้อมใช้เซ็นเซอร์หลายตัวที่เป็นนวัตกรรมใหม่เป็นคุณลักษณะสำคัญ ช่วยให้สามารถขยายขีดความสามารถของ CMM ตามความต้องการของคุณที่เปลี่ยนแปลงไป ความสามารถในการปรับเปลี่ยนนี้สามารถทำได้โดยไม่จำเป็นต้องอัปเกรดตัวควบคุมที่มีราคาแพง ทำให้เป็นโซลูชันที่คุ้มค่าสำหรับความต้องการในการวัดที่แตกต่างกัน

ALTERA M
ซีรีส์ ALTERA M แสดงถึงจุดสุดยอดของ CMM ประสิทธิภาพ (เครื่องวัดพิกัด) ซึ่งให้ปริมาณงานที่ยอดเยี่ยมและความแม่นยำที่เพิ่มขึ้นโดยตรงภายในสภาพแวดล้อมการผลิต ออกแบบมาเป็นพิเศษสำหรับการสแกนโพรบสัมผัสความเร็วสูงและการใช้งานเครื่องสแกนเลเซอร์ โดยมีความโดดเด่นในภาคส่วนที่ต้องการความแม่นยำสูงสุด เช่น OEM ในอุตสาหกรรมยานยนต์และอวกาศ ALTERA M ได้รับความนิยมเป็นพิเศษจากผู้ผลิตส่วนประกอบที่เน้นประสิทธิภาพ โดยที่ความแม่นยำและความเร็วเป็นสิ่งสำคัญที่สุด

ALTERA SL
ซีรีส์ ALTERA SL อยู่ในระดับแนวหน้าด้านความแม่นยำสูงเป็นพิเศษใน CMM (เครื่องวัดพิกัด) โดยมีความแม่นยำระดับต่ำกว่าไมครอน ด้วยประสบการณ์กว่า 50 ปีในด้านเทคโนโลยี LK CMM ALTERA SL ได้รับการปรับแต่งสำหรับงานที่ต้องการความแม่นยำสูงสุด การออกแบบสะพานขาสั้นที่เป็นนวัตกรรมใหม่ช่วยเพิ่มความแม่นยำอย่างมาก โดยนำความไม่แน่นอนในการวัดระดับห้องปฏิบัติการมาตรวิทยามาสู่การใช้งานต่างๆ ALTERA SL เวอร์ชันที่มีความแม่นยำสูงนี้เป็นเครื่องพิสูจน์ถึงวิศวกรรมและการออกแบบขั้นสูง เพื่อรองรับอุตสาหกรรมที่ความแม่นยำในการวัดสูงสุดเป็นสิ่งสำคัญ