อื่นๆ

AXIS Nova

เอ็กซ์เรย์โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปี (XPS) หรือที่เรียกว่าอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปีสำหรับการวิเคราะห์ทางเคมี (ESCA) เป็นเทคนิคการวิเคราะห์พื้นผิวที่ครบถ้วนและใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการกำหนดลักษณะวัสดุ XPS ให้ข้อมูลองค์ประกอบเชิงปริมาณและสถานะทางเคมีจากวัสดุสูงสุด 10 นาโนเมตร โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโตรมิเตอร์ AXIS Nova สามารถรวบรวมเอ็กซ์เรย์โฟโตอิเล็กตรอนสเปกตรัมและภาพจากวัสดุใดๆ ที่มีความเสถียรภายใต้สภาวะสุญญากาศสูงพิเศษที่จำเป็นสำหรับเทคนิคนี้